船舶半導(dǎo)體芯片的鹽霧試驗(yàn)過程詳解

編輯：廣東星拓環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備科技有限公司 2023-01-03　

一些半導(dǎo)體芯片由于腐蝕而造成電源線路中斷，特別是在有振動(dòng)的環(huán)境中，尤為嚴(yán)重。因此尤其需要對(duì)在船舶上或者是沿海區(qū)域所使用的半導(dǎo)體芯片進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)是非常有必要的，接下來星拓環(huán)境將圍繞船舶半導(dǎo)體芯片詳細(xì)解說其鹽霧試驗(yàn)的過程。

船舶半導(dǎo)體芯片鹽霧試驗(yàn)過程

1. 首先將試驗(yàn)樣品進(jìn)行預(yù)處理，按照規(guī)定承受彎曲應(yīng)力的預(yù)處理，如果已經(jīng)作為其他試驗(yàn)進(jìn)行過，則不需要重新進(jìn)行彎曲；

2. 然后將試驗(yàn)樣品置于循環(huán)鹽霧試驗(yàn)箱中，設(shè)置好所需要的溫濕度，調(diào)整噴霧量大小與鹽霧噴出角度；

3. 選擇試驗(yàn)時(shí)間：試驗(yàn)時(shí)間a：24±2h；試驗(yàn)時(shí)間b：48±4h；試驗(yàn)時(shí)間c：96±4h；試驗(yàn)時(shí)間d：240±8h；一般來說試驗(yàn)時(shí)間需要根據(jù)用戶試樣的要求選擇合適的，若無規(guī)定則可選取試驗(yàn)時(shí)間a。

船舶半導(dǎo)體芯片鹽霧試驗(yàn)結(jié)果

試驗(yàn)結(jié)束后，如果出現(xiàn)以下結(jié)果，則判定為失效：

1. 在室內(nèi)正常照明下，放大1倍~3倍檢查，標(biāo)識(shí)模糊；

2. 腐蝕缺陷面積超過任何封裝零件（例如蓋板、引線或外殼）鍍層金屬面積的 5%；引線缺損、斷裂；放大 10～20 倍檢查，完全貫穿零件的腐蝕。

以上就是船舶半導(dǎo)體芯片鹽霧試驗(yàn)的過程詳解以此來確定其耐腐蝕的能力。星拓環(huán)境是一家全力打造技術(shù)先進(jìn)、質(zhì)量過硬、服務(wù)優(yōu)質(zhì)、合作共贏的高新技術(shù)生產(chǎn)企業(yè)，多次承擔(dān)大型企業(yè)事業(yè)單位的檢測(cè)研發(fā)課題、為各大質(zhì)檢科研單位及大型企業(yè)事業(yè)單位提供一站式服務(wù)和檢測(cè)試驗(yàn)設(shè)備，若有任何鹽霧試驗(yàn)箱相關(guān)需求，可隨時(shí)聯(lián)系廣東星拓環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備廠家進(jìn)行咨詢，星拓工程團(tuán)隊(duì)可為您提供一對(duì)一專業(yè)的技術(shù)咨詢與指導(dǎo)，期待與您并肩合作。